集成電路測試儀鄭州哪家的質量最好？售后怎么樣？
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1．工作原理：
ICT33c+集成電路測試儀是以器件預期響應法為指導思想，以單片機智能化為結構的多功能測試儀器。它以MCS51單片機為核心，配合大規(guī)模軟件和外圍擴展系統(tǒng)來全面模擬被測器件的綜合功能。儀器的設計基礎立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是最重要，最根本，最能說明問題的參數(shù)。
2．系統(tǒng)主要構成：
（1） CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。
（2） 程序存儲器：128K EPROM。
（3） RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。
（4） 顯示器：8位液晶顯示器。
（5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
（6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
（7） 機箱：全塑結構機箱。
3．主要參數(shù)：
（1） 電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
（2） 整機功耗：15VA。
（3） 測試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4） 編程電壓：12.5V，21V。
（5） 最大測試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。
（6） 型號輸入位數(shù)：3——6位。
（7） 適用溫度：0——40℃。
（8） 測試規(guī)范：輸入短路測試；輸出短路測試；100%功能測試。
（9） 輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10） 輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11） 輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12） 輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
4.功能綜述
（1） 器件好壞判別：當不知被測器件的好壞時，儀器可判別其邏輯功能好壞。
（2） 器件型號識別：當不知被測器件的型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
（3） 器件老化測試：當懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進行連續(xù)老化測試。
（4） 器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號。
（5） 內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對內(nèi)部緩沖區(qū)進行多種編輯。
（6） 微機通訊：儀器可通過串行口接受來自微機的數(shù)據(jù)或將內(nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機。
（7） ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
（8） ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
5．適用范圍
ICT33C+具有以下主要用途：
（1） 維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
（2） 破譯被抹去型號集成電路的真實型號。
（3） 燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內(nèi)ROM。
（4） 開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
（5） 檢驗新購器件的質量。
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