Compact 5/5PIN X射線熒光分析測厚儀
產品特性：X射線熒光分析測厚儀,X射線熒光分析測厚儀
產品簡介：Compact5/5PINX射線熒光分析測厚儀 德國CompactecoX-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優越,而且價錢超值
詳細介紹：
Compact 5/5PIN X射線熒光分析測厚儀
德國Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優越,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首選。可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統。
Compact 5/5PIN ：輕巧的設計，半開放式測試箱，可容納大件的PCB產品，功能強大，可配合激光自動對焦，全方位自動樣品臺等功能使用。適合中小工件及PCB等產品行業。Compact 5 PIN更配備了半導體電子冷卻檢測器，令分辨率數倍提高，可測量非常薄的鍍層，滿足于半導體電子工業的應用。
安全性能：通過德國PTB安全驗證，符合德國最高安全法規標準。
可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)
可測量厚度范圍：
22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
準直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。
可選四個組合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
特別訂造
Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。
自動測量功能：編程測量，自定測量
修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
綜合性能：鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析：可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您節省購買標準片的成本。完全超越其他品牌的FP軟件。
鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液。
定性定量分析：光譜表示，光譜比較，可定性分析20多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。
光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度。
統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖，能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質。
400-6352-900
