元素分析儀/鍍層厚度測試儀（雙功能）XRF-2000R
廠家：Micro Pioneer
快速無損分素多種元素
0.1ppm - 100wt%
無需樣品加工
固體、液體、粉、薄膜、涂層不規則形狀，顆粒
自動激光對焦系統
友好的用戶界面，簡單的使用軟件
成本低，強大的售后服務團隊
多用途的應用系統
完全符合RoHS, WEEE, ELV優化應用
貴金屬分析應用(金、銀、鉑金其他珠寶等。)
薄膜或復雜的多層鍍層厚度測量的應用
其他的客戶關注的元素分析應用
XRF-2000R軟件每個功能都有獨立的窗戶。在測量的同時,會提供測量部位圖像和定性分析的統計。測量數據的發送到Microsoft Excel和其他辦公軟件。
通過點擊想要在鏡頭監控，點和拍攝功能的位置可以適合的位置自動測量
XRF - 2000R可以處理多種類型的統計數據 ， 包括均值報告盧比圖， 直方圖等提供樣本和分析數據 ， 并確定與應用法規遵從現實時間。
與控制系統的階段也支持各種接口結果值（Excel，HTML和 數據庫格式）
技術數據
樣品室尺寸：W610mm D670mm H490mm, Weight 75Kg (net)
可測量尺寸：W550mm D550mm H30mm
X射線管：銠（銀，鉬）靶，1 - 50KV，1.0mA電流。 微聚焦管
過濾器系統：5個自動切換的初級過濾系統
準直器系統：從0.1毫米到3.0mm多達6個自動切換準直器 客戶選擇準直器大小（特殊應用的可選）
X射線檢測器：電子佩爾蒂埃冷卻硅半導體（PIN二極管）檢測器
無液態氮氣，檢測分辨率 149eV FWHM在5.9Kev
視頻系統：彩色CCD相機倍率約，20倍變焦取決于顯示器大小或100倍變焦（可選）準直儀圓電子十字線
分析樣品：固體，液體和粉末
檢測范圍： 從Al（13）到U（92）1ppm的- 100wt％（真空可選）
輻射安全：完全的保護，故障安全系統就自動關機門傳感器快門傳感器，溫度傳感器，設計的X射線安全
主電源：110/220V交流電源50/60Hz
頻譜處理：數字脈沖處理。自動峰身份證，各種強度的方法-
毛重，凈重，數字濾波，背景去除
死區時間修正，密度校正，頻譜自動縮放
控制系統 ：桌面電腦或筆記本電腦與Windows 2000/XP/Vista環境
RoHS指令WEEE指令ELV指令優化的應用
FP法：無樣品定性資料分析30項目的籌備工作
校準方法：用標準物質標定定量分析
鍍層厚度測量中的應用多達6層
數據輸出：的MS - Excel或HTML格式的用戶或數據庫創造性自定義報告
下面是一些關于貴金屬分析和符合樣本的結果分析PVC
Ele. Given
Value
Measured
Value
Ele. Given
Value
Measured Value
Pt 100 % 99.99 % Pb 400 ppm 406 ppm
Pt 97 % 97.02 % Cd 100 ppm 102 ppm
Au 100 % 99.99 % Hg 200 ppm 191 ppm
Au 76.3 % 76.18 % Cd 400 ppm 415 ppm
Au 51.8 % 51.67 % Br 500 ppm 520 ppm
測量條件：
測量時間：100
每個樣品測量10次
認證測試的標準是由
濕化學分析和ICP - AES，MS。
珠寶 聚氯乙烯標準
我們提供的元素分析或厚度決心，今天就聯絡我們解決您的質量控制問題。
400-6352-900
